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银包铜粉在水滴法迁移实验中的迁移及机理

分类:新闻中心 发布时间:2023-09-07 31348次浏览

(银包铜粉)迁移及机理Cu/Cu标准电*电位0.340VAg/Ag准电电位0.7...

(海淀银包铜粉)迁移及机理

Cu/Cu标准电*电位0.340VAg/Ag准电电位0.7991V,从标准电*电位可知铜比银活泼。在施加正电压和水电解质的作用下,在阳*上Cu优先于Ag溶解。在水溶液中,Cu反应生成物Cu(0H和CuO均是难沉淀物生成的沉淀物会粘附在阳*表面,增加铜的表面电阻,阻止铜阳*的溶解,在迁移现象的宏观表现上就是迁移现象的出现较慢。

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在阴*上,银是优先于在阴*沉积。*方面由于银的阳*溶解被抑制,液中Ag浓度较少;另*方面Cu比Ag容易形成氧化物C在溶液中就与0H结合生成Cu(OH),从银包料电*迁物的EDS分析结果可见迁移物中是主要成分(见图7)Cu达到阴*并沉积的速度大大降低。

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